Pyyhkäisy­elektroni­mikroskooppi SEM (+EDS/WDS/EBSD) Pyyhkäisyelektronimikroskooppi (SEM, Scanning Electron Microscope) ja siihen yhdistetyt analysaattorit (EDS/WDS/EBSD) muodostavat monipuolisen kokonaisuuden, jonka avulla pintatutkimusta voidaan suorittaa erittäin tarkasti. Korkea resoluutio mahdollistaa tarkan kuvanlaadun hyvinkin suurilla suurennoksilla … Jatka artikkelin Elektronimikroskopia-(SEM-EDS/WDS/EBSD) lukemista